数显卡尺试行检定规程
适用于﹑修理后和使用中的分辨率为0.01mm ﹐测量范围至500mm 的数显卡尺的检定。
检定项目和检定条件
1. 数显卡尺的检定项目和主要检定工具列表1.
2. 检定卡尺的窒内温度为20°±5℃。检定前﹐应将被检数显卡尺及量块等检定工具同时置于金属平板或木桌上﹐平衡温度的时间不少于表2的规定。
3. 检定卡尺的室内相对湿度不超过80%.
检定要求和检定方法
4. 外观
4.1要求﹕数显卡尺的表面上不应有锈蚀﹑碰伤或其它缺陷。数
显窗不得倾斜。玻璃表面应清洁﹑透明﹑无破损和划伤。
表1
注﹕表中“+”表示应检定﹔“-”表示可不检定。
表2 数显卡尺上应刻有制造厂名(或厂标) ﹑出厂编号和各功能按钮的标志。
使用中和修理后数显卡尺不应有影响使用准确度的外观缺陷。 4.2检定方法﹕目力观察 5. 各部分相互作用
5.1要求﹕尺框和微动装置沿尺身移动时应手感平稳﹑无卡住
或松动现象。尺框相对尺身无明显晃动。制动螺钉的作用应可
靠。深度尺不允许有窜动。微动装置的空程﹐新制的不应超过1/4转﹐修理后和使用中的应不超过1/2转。
5.2检定方法﹕观察和试验
在检定尺框和微动装置沿尺身移动平稳性时﹐如有异议﹐则在尺框上悬挂砝码对尺框和微动装置沿尺身移动时的相对移动力进行检定。移动力及其变化不大于表3的规定值。 表3
检定。
将数显卡尺量爪垂直向上安放﹐并使百分表测头在距离外量爪端面10mm 处与外量爪测量接触。然后在接触点附近正反两方向悬挂砝码。百分表上示值的变化量即为晃动量。晃动量应不大于表
4的规定值。 表4 6. 显示器
6.1要求﹕在全部测量范围内﹐数字显示均应清晰﹑完整﹑无黑斑和闪跳现象。各按钮功能可靠﹑工作稳定。 6.2检定方法﹕观察和试验。 7. 测量面的有面粗糙度
7.1要求﹕不大于表5的规定。
表(μm)
5
面粗糙检定仪上检定。 8. 外量爪测量面的平面度
8.1要求﹕不大于0.002mm 。
8.2检定方法﹕用2级平晶以干涉法检定﹐或用零级样板直尺以光隙法检定。
用干涉法检定时﹐测量面上应有任意形干涉带。
用样板直尺检定时﹐应在测量面的纵横向中间和两对角线四个方位上检定。如光隙均出现在中间部位或两边部位时﹐则测量面的平面度以最大光隙量确定﹔如光隙在某一方位出现在中间部位﹐另一方位出现两边部位时﹐则测量
的平面度以中间部位最大光隙量与两边都位最大光隙量之和确定。
测量面边缘0.2mm 范围允许塌边。 9. 外量爪两测量面合并后的间隙 9.1要求﹕不大于0.006mm 。
9.2检定方法﹕移动尺框﹐使两量爪测量面至手感接触﹐观察两量爪测量面间的间隙﹐以光隙法检定。这一检定应分别在尺框紧固和松开的两种状态下进行。 10. 圆柱面内量爪的尺寸及平行度 11. 1要求﹕不超过表6的规定。 表6
新制的数显卡尺圆柱面内量爪基本尺寸为10mm 或20mm 。使用中和修理后的允许小于基本尺寸b ﹐但应为0.1mm 的整数倍。新的标称尺寸应在检定证书上加以注明。
10.2检定方法﹕尺寸b 用3级或6等量块和杠杆式千分尺(或零级千分尺) 沿数显卡尺量爪﹐在平行于尺身的方向上测量。在其它方向上测量时﹐测得值也不应超过表6的规定。检定应在尺框紧固与松开的两种状态下进行。
平行度在内量爪距外端2mm 处开始测量﹐以全长范围内最大最小尺寸之差确定。 12. 刀口内量爪尺寸
11.1要求﹕不超过表7的规定。
11.2检定方法﹕先将一块3级或6等10mm 量块放置于两外量爪测量面之间。旋紧制动螺钉后﹐该量块应能在测量面间滑动而不脱落。用杠杆式千分尺或零级千分尺在平行于尺身方向﹐沿全长范围内测量刀口内量爪尺寸。尺寸偏差由测得值与量块尺寸之差确定。在其它方向上测量时﹐测得值也不应超过表7的规定。 表7
12. 13. 1要求﹕不超过0.01mm 。
12.2检定方法﹕在尺框处于任意位置处置零。然后移动尺框﹐使两量爪测量
面至手感接触并读数。在测量条件不作任何改变的情况下﹐重复接触10次。示值变动性以显示值的最大差值确定。 13. 示值误差
13.1要求﹕不超过表8的规定。 表8 单位:mm
13.2.1外测量爪的示值误差检定 用3级或6等量块检定。对示值范围至300mm 的数显卡尺﹐至少在示值范围内均匀分布的3点上检定﹔对于示值范围大于300mm 的数显卡尺﹐至少在6点检定。例如﹐对测量范围0～300mm 的数显卡尺﹐其示值范围为300mm ﹐检定点可选在101.2﹑201.5和291.8mm3点。
检定时﹐应首先移动尺框﹐使两测量面至手感接触并置零。在每个受检点上均在量爪的里端两个位置上进行检定﹐而且量块工作面长边应与数显卡尺测量面长边相垂直。示值误差以显示值与量块尺寸之差确定。
13.2.2深度尺和台阶尺的示值误差检定
深度尺和台阶尺在尺寸为20mm 上检定。在检定之前﹐应首先移动尺框﹐使两测量面至手感接触﹐并置零。然后用两块尺寸为20mm 的3级或6等量块置于1级平板上﹐使尺身尾部端面或尺框前端台阶测量面与量块接触, 并移动深度尺或台阶测量尺, 使其测量面与平板接触, 此时的显示值与量块尺寸之差即为示值误差.
14. 显示器示值稳定度
14.1要求: 1h内不大于0.01mm. 14.2检定方法: 目力观察.
在数显卡尺测量范围内的任意位置紧固尺框. 在1h 内显示值的变化不大于规定值.
检定结果的处理和检定周期
15. 经检定符合本规定要求的数显卡尺发给检定证书, 不符合本规程要求的发给检定结果通知书.
16. 检定周期可根据使用的具体情况确定, 一般不超过一年
外校与内校
一、外校项目与工具
二、内校项目
数显卡尺试行检定规程
适用于﹑修理后和使用中的分辨率为0.01mm ﹐测量范围至500mm 的数显卡尺的检定。
检定项目和检定条件
1. 数显卡尺的检定项目和主要检定工具列表1.
2. 检定卡尺的窒内温度为20°±5℃。检定前﹐应将被检数显卡尺及量块等检定工具同时置于金属平板或木桌上﹐平衡温度的时间不少于表2的规定。
3. 检定卡尺的室内相对湿度不超过80%.
检定要求和检定方法
4. 外观
4.1要求﹕数显卡尺的表面上不应有锈蚀﹑碰伤或其它缺陷。数
显窗不得倾斜。玻璃表面应清洁﹑透明﹑无破损和划伤。
表1
注﹕表中“+”表示应检定﹔“-”表示可不检定。
表2 数显卡尺上应刻有制造厂名(或厂标) ﹑出厂编号和各功能按钮的标志。
使用中和修理后数显卡尺不应有影响使用准确度的外观缺陷。 4.2检定方法﹕目力观察 5. 各部分相互作用
5.1要求﹕尺框和微动装置沿尺身移动时应手感平稳﹑无卡住
或松动现象。尺框相对尺身无明显晃动。制动螺钉的作用应可
靠。深度尺不允许有窜动。微动装置的空程﹐新制的不应超过1/4转﹐修理后和使用中的应不超过1/2转。
5.2检定方法﹕观察和试验
在检定尺框和微动装置沿尺身移动平稳性时﹐如有异议﹐则在尺框上悬挂砝码对尺框和微动装置沿尺身移动时的相对移动力进行检定。移动力及其变化不大于表3的规定值。 表3
检定。
将数显卡尺量爪垂直向上安放﹐并使百分表测头在距离外量爪端面10mm 处与外量爪测量接触。然后在接触点附近正反两方向悬挂砝码。百分表上示值的变化量即为晃动量。晃动量应不大于表
4的规定值。 表4 6. 显示器
6.1要求﹕在全部测量范围内﹐数字显示均应清晰﹑完整﹑无黑斑和闪跳现象。各按钮功能可靠﹑工作稳定。 6.2检定方法﹕观察和试验。 7. 测量面的有面粗糙度
7.1要求﹕不大于表5的规定。
表(μm)
5
面粗糙检定仪上检定。 8. 外量爪测量面的平面度
8.1要求﹕不大于0.002mm 。
8.2检定方法﹕用2级平晶以干涉法检定﹐或用零级样板直尺以光隙法检定。
用干涉法检定时﹐测量面上应有任意形干涉带。
用样板直尺检定时﹐应在测量面的纵横向中间和两对角线四个方位上检定。如光隙均出现在中间部位或两边部位时﹐则测量面的平面度以最大光隙量确定﹔如光隙在某一方位出现在中间部位﹐另一方位出现两边部位时﹐则测量
的平面度以中间部位最大光隙量与两边都位最大光隙量之和确定。
测量面边缘0.2mm 范围允许塌边。 9. 外量爪两测量面合并后的间隙 9.1要求﹕不大于0.006mm 。
9.2检定方法﹕移动尺框﹐使两量爪测量面至手感接触﹐观察两量爪测量面间的间隙﹐以光隙法检定。这一检定应分别在尺框紧固和松开的两种状态下进行。 10. 圆柱面内量爪的尺寸及平行度 11. 1要求﹕不超过表6的规定。 表6
新制的数显卡尺圆柱面内量爪基本尺寸为10mm 或20mm 。使用中和修理后的允许小于基本尺寸b ﹐但应为0.1mm 的整数倍。新的标称尺寸应在检定证书上加以注明。
10.2检定方法﹕尺寸b 用3级或6等量块和杠杆式千分尺(或零级千分尺) 沿数显卡尺量爪﹐在平行于尺身的方向上测量。在其它方向上测量时﹐测得值也不应超过表6的规定。检定应在尺框紧固与松开的两种状态下进行。
平行度在内量爪距外端2mm 处开始测量﹐以全长范围内最大最小尺寸之差确定。 12. 刀口内量爪尺寸
11.1要求﹕不超过表7的规定。
11.2检定方法﹕先将一块3级或6等10mm 量块放置于两外量爪测量面之间。旋紧制动螺钉后﹐该量块应能在测量面间滑动而不脱落。用杠杆式千分尺或零级千分尺在平行于尺身方向﹐沿全长范围内测量刀口内量爪尺寸。尺寸偏差由测得值与量块尺寸之差确定。在其它方向上测量时﹐测得值也不应超过表7的规定。 表7
12. 13. 1要求﹕不超过0.01mm 。
12.2检定方法﹕在尺框处于任意位置处置零。然后移动尺框﹐使两量爪测量
面至手感接触并读数。在测量条件不作任何改变的情况下﹐重复接触10次。示值变动性以显示值的最大差值确定。 13. 示值误差
13.1要求﹕不超过表8的规定。 表8 单位:mm
13.2.1外测量爪的示值误差检定 用3级或6等量块检定。对示值范围至300mm 的数显卡尺﹐至少在示值范围内均匀分布的3点上检定﹔对于示值范围大于300mm 的数显卡尺﹐至少在6点检定。例如﹐对测量范围0～300mm 的数显卡尺﹐其示值范围为300mm ﹐检定点可选在101.2﹑201.5和291.8mm3点。
检定时﹐应首先移动尺框﹐使两测量面至手感接触并置零。在每个受检点上均在量爪的里端两个位置上进行检定﹐而且量块工作面长边应与数显卡尺测量面长边相垂直。示值误差以显示值与量块尺寸之差确定。
13.2.2深度尺和台阶尺的示值误差检定
深度尺和台阶尺在尺寸为20mm 上检定。在检定之前﹐应首先移动尺框﹐使两测量面至手感接触﹐并置零。然后用两块尺寸为20mm 的3级或6等量块置于1级平板上﹐使尺身尾部端面或尺框前端台阶测量面与量块接触, 并移动深度尺或台阶测量尺, 使其测量面与平板接触, 此时的显示值与量块尺寸之差即为示值误差.
14. 显示器示值稳定度
14.1要求: 1h内不大于0.01mm. 14.2检定方法: 目力观察.
在数显卡尺测量范围内的任意位置紧固尺框. 在1h 内显示值的变化不大于规定值.
检定结果的处理和检定周期
15. 经检定符合本规定要求的数显卡尺发给检定证书, 不符合本规程要求的发给检定结果通知书.
16. 检定周期可根据使用的具体情况确定, 一般不超过一年
外校与内校
一、外校项目与工具
二、内校项目